大綱：
2D材料是納米和光電領域的最新技術。用微米級的非破壞性方法表徵其結構性質非常重要。我們在本文中演示了LabRAM Soleil共聚焦拉曼多模顯微鏡如何是這些材料表徵的理想工具。
通過光致發光和超低頻拉曼光譜對WS2薄片進行結構表徵 Structural characterization of WS2 flakes by Photoluminescence (RA-77)
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2D材料是納米和光電領域的最新技術。用微米級的非破壞性方法表徵其結構性質非常重要。我們在本文中演示了LabRAM Soleil共聚焦拉曼多模顯微鏡如何是這些材料表徵的理想工具。