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品牌: Horiba France SAS (HFR)

應用: 光學量測

XploRA Nano 原子力顯微拉曼系統

Goods number:
由SmartSPM 最新型掃描探針顯微鏡和XploRA拉曼顯微光譜儀的完整成套系統。
XploRA Nano具有全自動功能且易於使用,整合AFM與Raman的優點及合理的價格,讓所有人可以實現TERS(Tip-Enhanced Raman Spectroscopy) imagine,且系統是經過TERS驗證。

產品敘述

特點:

  • 可以在同一個系統上完成Macro, Micro and Nano 尺度的量測
  • 自動化校正與自動化操作設計,只需數分鐘就能開始量測樣品而非數小時
  • 真正共軛焦系統,實現高解析度,自動mapping 載台與full microscope visualization options
  • 高收光效率,在同區域成像與針尖增強可獲得最佳的解析度與光通量
  • 最高解析度,具有自動切換多個光柵,用於拉曼和PL寬光譜範圍分析。
  • 高空間解析度,Nanoscale spectroscopic resolution (down to 10 nm) through Tip Enhanced
  • 多種技術與量測,SPM/AFM/cAFM/KPFM…

詳細規格

應用

  • AFM-TERS
  • Carbon Nanotube
  • 2D Material
  • Pharmaceuticals
  • Semiconductor
  • Polymer
  • Geology
  • Chemical
  • Art and Museum
  • Forensics

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