產品敘述
AFM-Raman聯用系統
依使用的顯微鏡形式可選擇底部、頂部、側邊三種聯用方式。
在進行AFM微區掃描時，同步進行拉曼影像掃描。
可進行針尖增強拉曼光譜 (TERS)、共點SPM、SNOM、STM等試驗。
可與下列AFM廠牌串聯：AIST-NT, Agilent , Asylum Research, Bruker Nano (Veeco), JPK, Nanonics, Park.
品牌: Horiba France SAS (HFR)
應用: 光學量測、金屬材料、電子材料、能源研發 / 電池測試
AFM-Raman聯用系統
Goods number:
AFM-Raman聯用系統
依使用的顯微鏡形式可選擇底部、頂部、側邊三種聯用方式。
在進行AFM微區掃描時，同步進行拉曼影像掃描。
可進行針尖增強拉曼光譜 (TERS)、共點SPM、SNOM、STM等試驗。
可與下列AFM廠牌串聯：AIST-NT, Agilent , Asylum Research, Bruker Nano (Veeco), JPK, Nanonics, Park.
依使用的顯微鏡形式可選擇底部、頂部、側邊三種聯用方式。
在進行AFM微區掃描時，同步進行拉曼影像掃描。
可進行針尖增強拉曼光譜 (TERS)、共點SPM、SNOM、STM等試驗。
可與下列AFM廠牌串聯：AIST-NT, Agilent , Asylum Research, Bruker Nano (Veeco), JPK, Nanonics, Park.
