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品牌: Horiba Instruments Incorp (HII)

應用: 光學量測、金屬材料、電子材料、能源研發 / 電池測試

Nanolog 奈米材料專用模組化螢光光譜儀 -

Nanolog 奈米材料專用模組化螢光光譜儀

Goods number:
Nanolog為模組化分光螢光光譜，專為奈米技術與奈米材料研究而設計，完整的光譜可在幾個毫秒內掃描完成，完整的激發放射矩陣(Excitation Emission Matrix，EEM)量測能在數秒內完成。偵測器範圍可從240~1000 nm或800~1550 nm (最遠可檢測到3000 nm)，針對SWNT及量子點，Horiba提供特殊計算軟體進行分析及能量轉移計算。
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產品敘述 應用範圍 相關文件

產品敘述

特色

  • 利用InGaAs陣列偵測器數秒內可以完成激發放射矩陣光譜，在近紅外中具有高靈敏度與解析度，易於鑑定和定量SWNT的材料
  • 與各種UV~NIR偵測器或光電倍增管相容，實現最高靈敏度和時間解析分析，價格實惠
  • 用於快速數據採集的InGaAs多元素CCD陣列可同時分析量子點的混合物執行能量傳輸實驗模組化設計，可滿足您理想的實驗設置。

詳細規格

應用

  • Steady state PL
  • Excitation Emission Matrix EEM
  • Photoluminescence Spectroscopy of Quantum Dots
  • Lifetime

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原廠型錄：

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