輝光放電分光儀對= 044;樣品之面分析可以做= ;到150μm，且層次分析的= 解析度小於1nm，確實是= 表面分析的ㄧ個非常= 9702;想的工具

輝光放電分光儀= RF= Glow Discharge OES=

　　法國JY= (Jobin Yvon) 公司採用無線電頻產生器之輝ࠠ= 9;放電分光儀(R= F Glow Discharge OES) 提供同步式及連續式光&#= 35676;儀，可對導體及= 8750;導體樣品進行表面= ;分析(S= urface analysis)、層次分析(D= epth Profile)、以及塊&= #26448;分析(B= ulk Analysis)。

　　RF= -輝光放電分光儀਷= 9;一種非常快速之表༣= 4;技術，易於操作，可&= #20316;導體及非導體樣品= 043;表面定性及定量分= 512;。

　　輝光放電分ࠠ= 9;儀對於樣品之表面分&= #26512;可以做到15= 0μm深，且層次分析௚= 0;解析度小於1n= m，是表面分析工߯= 6;上ㄧ個非常理想௚= 0;工具。

　　JY= 的輝光放電分光࠙= 6;採用專利設計的HD= D(高動態範圍偵測)<= /span>可用re= al time自動調整偵測器ᦁ= 2;使各元素的分析從小&= #21040;某ㄧ層次的微量࠳= 8;析，大到第二層次的&= #20027;成分元素分析，而= 981;會影響到靈敏度。=

　　法國JY= (Jobin Yvon) 公司之GD= -PROFILER™ Series，各自搭配不同= 之選配以符合廣泛應= 9992;及預算需求。GD= -PROFILER™ 對各類樣品型式= 提供優異之功能表現= 5292;而GD= -PROFILER HR™ 高解析度之輝光= 放電分光儀為當今市= 2580;上無可匹配，可提ߵ= 9;使用者超高功能之分&= #26512;表現之唯一機種。

· 無線電頻產生器(RF-Only genera= tor)為Cl= ass E 標準，可針對穩ऩ= 0;性及樣品剝蝕坑之形&= #29376;(c= rater shape)作最佳化之調整= ，允許進行真實之表= 8754;分析工作.<= o:p>

· 同時式 <= st1:chmetcnv UnitName=3D"米" SourceValue=3D"0.5" HasSpace=3D"False" Negative=3D"Fa= lse" NumberType=3D"1" TCSC=3D"0" w:st=3D"on">0.5米光學系統提供110<= span style=3D'font-size:11.0pt;font-family:DFKai-SB;mso-ascii-font-family:"Times= New Roman"'>至80= 0nm 全光譜波長範圍ᦁ= 2;包含遠紫外光區之H,= O, C, N and Cl等Ð= 03;素之表面分析.<= o:p>

· JY原ò= 88;的離子浸蝕雷射蝕刻= 光柵(i= on-etched holographic grating)確保最高&#= 20809;效率及靈敏度。

· =3DGD-PROFILER 專利設&= #35336;的HD= D偵測器提供快速ߎ= 8;高靈敏度的偵測。

· 樣品室設&#= 35336;有足夠的空間便於ņ= 22;放樣品。

· 超高功能&#= 30340;QU= ANTUM^TMIQ^TM軟體提供&#= 26700;邊報告的工具。

· CenterLite雷射指針(<= /span>專利申請中)<= /span>提供精準的樣品定位Ӎ= 0;

· 可加裝選&#= 37197;之單光儀系統ᦁ= 2;只有JY= 能提供如此完美௚= 0;工具(n= +1 channel)以增加儀器的使= 用彈性。

· D-PROFILER HR^TM1.0 m<= span style=3D'font-size:11.0pt;font-family:DFKai-SB;mso-ascii-font-family:"Times= New Roman"'>長光徑可提供= 14= pm解析度，並可同ઽ= 3;分析最多至60= 個頻道。

· GD-PROFILER HR^TM可加裝選配之1.0m࢑= 4;光儀系統，在紫外光ࡓ= 2;可得到最高9 = pm的解析度= 290;<= /p>

AST昇<= /span>航股份有限&#= 20844;司

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